BGA焊接不良檢測(cè)_金相分析

 半導(dǎo)體 / 集成電路     |      2018-11-10

BGA焊接不良檢測(cè)超清金相顯微鏡

BGA焊接不良檢測(cè)---
                 在SMT貼片生產(chǎn)流程中,對(duì)PCB板在焊接過程中變形,BGA本體在焊接過程中變形,造成融化時(shí)相互接觸不到,造成漏焊,虛焊,橋連,空洞等不良現(xiàn)象,目前采用制作切片標(biāo)本,研磨拋光,再用高倍金相顯微鏡進(jìn)行放大觀察。較傳統(tǒng)的金相顯微,在目視以及視頻采集軟件上,通過放大倍數(shù)超過500倍,將其中一個(gè)焊接點(diǎn)放大后研判,而BGA切片樣品,通常有好幾個(gè)甚至是多達(dá)幾十個(gè)焊接點(diǎn),從第一個(gè)到最后一個(gè),未能實(shí)現(xiàn)在一張圖片上進(jìn)行說明,對(duì)于工藝的連貫性而言,缺少了追溯的判斷。


 深圳華顯光學(xué)提供BGA焊接不良檢測(cè)解決方案!


BGA焊接點(diǎn)高倍顯微鏡放大觀察;1個(gè)焊接點(diǎn))

華顯光學(xué)于9月份推出超清金相系列,采用2000萬像素,實(shí)時(shí)15/fps 圖像傳輸,更具備實(shí)時(shí)拼接功能,可在光學(xué)物鏡50或者100倍的情況下,對(duì)被檢測(cè)產(chǎn)品進(jìn)行平面圖像拼接。



(圖片來自華顯光學(xué)EOC系列超清金相顯微鏡--10X物鏡全景拼接
將整個(gè)BGA切片金相分析樣品全景掃描合成后,從第一個(gè)到第N個(gè),一個(gè)不漏的拍攝存儲(chǔ),為用戶分析其工藝提供樣品全景分析和追溯。



(電腦操作界面)



(20X物鏡拍攝全景圖,支持圖片瀏覽放大模式)


深圳華顯光學(xué)公司超清金相系列,具備明暗場(chǎng)照明系統(tǒng),無限遠(yuǎn)平場(chǎng)消色差光學(xué)物鏡,

配置智能顯微成像系統(tǒng),無論是目視,視頻放大,測(cè)量,都能讓品質(zhì)分析輕松簡(jiǎn)便。



如用戶需要對(duì)失效分析進(jìn)行測(cè)試,可將樣品寄送我司實(shí)驗(yàn)室(深圳/昆山);華顯光學(xué)實(shí)驗(yàn)室從鏡頭,精密測(cè)量設(shè)備,智能檢測(cè)運(yùn)用,一站式為用戶提供光學(xué)解決方案


超景深合成

深圳華顯光學(xué)實(shí)驗(yàn)室,BA301金相顯微鏡 光通信超級(jí)綁定線合成"實(shí)時(shí)"圖像拼接


      作中由于普通顯微鏡景深太小,難以對(duì)某些有縱向深度的痕跡進(jìn)行觀察,采用景深合成能有效的解決景深不足的問題,使用BA301met金相顯微鏡(明暗場(chǎng)顯微檢測(cè)系統(tǒng)在500倍下對(duì)銅絲斷面進(jìn)行高倍率景深合成,可輸出一張500倍放大的景深達(dá)20mm的超景深痕跡圖像_BGA焊接不良檢測(cè)
             因拍攝視野有限,以往為獲取大視野圖像,需對(duì)多張不同位置的靜態(tài)圖像進(jìn)行后期處理,操作同樣麻煩。EOCMosaic2.0突破了"實(shí)時(shí)圖像拼接"的關(guān)鍵技術(shù),擺脫顯微視野和相機(jī)感光面的束縛,移動(dòng)載物臺(tái)的同時(shí)即可生成拼接圖像_BGA焊接不良檢測(cè)只需一鍵點(diǎn)擊,即刻享受無限視野邊界的震撼體驗(yàn)!


深圳華顯光學(xué)_金相分析