導(dǎo)電粒子檢測(cè)解決方案

TFT-LCD壓痕導(dǎo)電粒子檢測(cè)

一、作業(yè)背景

我們使用的手機(jī)大部分都是TFT-LCD屏幕。在T-LCD屏的生產(chǎn)過(guò)程有一系列的工藝流程下圖(a)是切割好的F-CD屏幕，尚未連接外部電路: (b) 是驅(qū)動(dòng)電路IC: (c) 是排線FPC.外部電路連接方法是通過(guò)將屏幕與電路對(duì)準(zhǔn)，然后加壓、加熱將驅(qū)動(dòng)電路和排線上的引腳壓制到玻璃上。

在電路壓制過(guò)程中會(huì)產(chǎn)生凸起的導(dǎo)電球壓痕顆粒(如下圖所示)路連接性越好。

在生產(chǎn)過(guò)程中，由于工藝控制存在誤差，往往會(huì)導(dǎo)電粒F不夠明顯，進(jìn)而產(chǎn)生不良產(chǎn)品。

導(dǎo)電粒子壓榨痕跡的樣子和大小是按照壓榨程度變更，用壓痕一般顯微鏡可以看陽(yáng)刻和陰刻的差異可以測(cè)定壓差程度。正常被壓榨的導(dǎo)電粒子痕跡是會(huì)明顯看出陽(yáng)刻和陰刻，但是比較經(jīng)緯或者過(guò)分壓榨的導(dǎo)電粒子痕跡是不會(huì)明顯看出陽(yáng)刻和陰刻。DIC微分干涉顯微鏡高清HDMI 200萬(wàn)像素?cái)?shù)碼成像系統(tǒng)，可以高倍檢測(cè)TFT觸摸屏ITO上導(dǎo)電粒子壓合及數(shù)量。

檢測(cè)要求：

對(duì)TFT觸摸屏ITO上導(dǎo)電粒子壓合及數(shù)量進(jìn)行檢測(cè)。

檢測(cè)難度：

壓痕過(guò)淺、高倍檢測(cè)不夠清晰

案例效果圖：

DIC微分干涉顯微鏡

廣泛應(yīng)用于:

各大液晶面板生產(chǎn)企業(yè) 液晶面板工藝研究部門(mén)液晶面板

QA部門(mén)

手機(jī)、數(shù)碼相機(jī)面板生產(chǎn)企業(yè).